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无铅陶瓷(Bi0.5Na0.5)TiO3:Pr的发光性能和电学性能
摘要 Pr掺杂的无铅陶瓷(Bi0.5Na0.5)TiO3(BNT)陶瓷是用固态反应方法制备的。本论文系统的研究了掺杂浓度和电荷补偿对光致发光性能的影响。结果表明,Pr掺杂的BNT陶瓷表现出很强的红色发光性质,在蓝光(440-505nm)激发下具有以610nm为中心的单峰,同时还保持高压特性。在1150℃下保持2h得到的BNT:0.003Pr样品具有最大的发光强度。特别地,由于俘获中心的存在,通过引入(Bi0.5Na0.5)2 空穴作为电荷补偿,比碱金属(Li ,Na ,K )更能有效地增强BNT:xPr 3 的红光强度。除了固有的压电特性之外,与紫外或红外光激发发光材料相比,BNT:xPr材料的激发带与现有蓝色发光二极管芯片(450-470nm)具有很好的兼容性,该系统在新兴的多功能设备中具有显著的应用前景。
关键词:光学特性;陶瓷;铁电;压电
1.引言
1960年,钛酸铋钠(Bi0.5Na0.5)TiO3(BNT)型钙钛矿结构首次由Smolenskii等人发现。此后,(Bi0.5Na0.5)TiO3基铁电体材料吸引越来多的人的兴趣,因为它们优秀的铁电性能,比如高剩余极化强度(Pr=38mu;C/ cm2),高居里温度(Tc = 3201℃)和矫顽场(Ec = 73kV / cm),被认为是Pb基压电材料的理想替代品。大多数基于BNT固溶体的研究主要集中在添加ABO3钙钛矿材料,金属氧化物或稀土氧化物,改进其电学性能。特别是稀土掺杂(Bi 0.5 Na 0.5)TiO 3材料最近吸引了相当多的关注,因为他们具有不存在于其他改性的BNT化合物的性质,例如,它们显示出优异的压电性能和强发光性能,其中具有6s2双电子配置的Bi3 离子和作为敏化剂、活化剂且内部具有特殊4f层的稀土离子发挥了重要作用,这在新型多功能设备中有重大的技术前景。 因此,稀土元素BNT基固溶体在集成光电器件应用方面的优势已经引起了深刻的研究,包括探索新材料和提高发光强度。
在我们以前的工作中,笔者发现Pr3 掺杂(Bi0.5Na0.5)TiO3铁电陶瓷显现出很有吸引力的潜质,因为在蓝色激发光(453nm)下,它在610nm左右发出源于1D2-3H4的红色光,同时它的铁电性得到提高。与CaTiO3:Pr3 相比,(Bi0.5Na0.5)TiO 3:Pr 3 材料不仅具有较大的极化,而且也表现出近似于“理想的红色”。 因此,Pr 3 掺杂的BNT是潜在的红色磷光体候选材料,用于白色发光二极管(LED)中。然而,低发光效率限制了它们在制作集成光电器件的实用性,所以进一步提高发光强度和研究发光机制是非常重要的。
在这项工作中,我们系统地研究了工艺条件和掺杂剂浓度对BNT:Pr3 陶瓷的电学性能和发光性能的影响。 此外,Li ,Na ,K 离子和空位作为电荷补偿被引入BNT:Pr3 陶瓷系统中,提高发光性能,也讨论了其增强机理。
2.实验过程
使用以下化学式,通过固相反应制备Pr 3 掺杂(Bi 0.5 Na 0.5)TiO 3陶瓷:(Bi 0.5 Na 0.5)1-x Pr x TiO 3(缩写为BNT:xPr),(Bi 0.5 Na 0.5)1-1.5x Pr x TiO 3和(Bi0.5Na0.5)1-2xPrxMxTiO3(x = 0.003,M = Li ,Na ,K )。根据化学计量比称量Bi 2 O 3(Alfa Aesar,99%),Na 2 CO 3(天津化学试剂,99%),TiO 2(Alfa Aesar,99.9%)和Pr 6 O 11(Alfa Aesar,99%)。将称重的粉末在聚丙烯瓶中与醇和氧化锆研磨介质混合,球磨24小时,在100℃下干燥,随后在850℃下在空气中煅烧4小时。再次研磨煅烧后的粉末,并用8%质量比的聚乙烯醇粘合剂造粒,压制成片状。最后,将这些生料片在在空气中经1150℃烧结2小时。为了研究不同烧结温度和烧结时间对光致发光性能的影响,将(Bi 0.5 Na 0.5)1-xPr x TiO 3(x = 0.003)的样品在不同的烧结温度(1000,1050,1100,1150,1200,1230和1250℃)烧结2小时,并在1150℃下的空气中烧结不同的时间(1小时,2小时,4小时和6小时)。
用X射线衍射仪(XRD,D8 Advanced,Bruker,德国)观察BNT:xPr陶瓷的相结构。使用扫描电子显微镜(SEM)(JSM EMP-800,JEOL,Tokyo,Japan)观察分析显微结构。将所有样品抛光至0.5mm厚度,使用分光荧光计(LS-55,PerkinElmer)在室温下测试光致发光(PL)和光致发光激发(PLE)光谱,测量范围为300nm至800nm,扫描速度为240nm / min,响应时间为0.002s,激发和发射狭缝均为2.5nm。使用UV / vis / NIR分光光度计(V-570,JASCO)测量漫反射光谱。为了测试电学性能,将银电极涂在陶瓷样品的两侧上。使用E4980A LCR计(Agilent,Palo Alto,CA)测量不同频率下的介电常数和损耗随对温度的变化。通过使用铁电测试系统(Precision Premier II,Radiant Technologies Inc.,Albuquerque,NM)测试极化(P)对电场(E)曲线来获得极化参数(Pm,Pr和Ec)。通过准静态d33仪(ZJ-6A,Institute of Acoustics,北京,中国)测量极化样品的压电常数d 33。
3.结果和讨论
图1显示了在1150℃下烧结的化合成分为x = 0和0.003的BNT:xPr陶瓷显微结构。 所有样品烧结情况良好,具有几乎完全致密和均匀的显微结构,相对密度较高(~96%),晶粒生长良好没有明显的第二相。从图1可以看出,添加Pr3 离子对晶粒尺寸没有显着影响,平均晶粒尺寸约为1.1mu;m。
BNT:xPr(x = 0,0.003)陶瓷的介电常数和损耗随温度的变化如图2(a)和(b)所示。 测量频率范围从1 kHz到1 MHz。 这两个样品都显示出两个介电异常:一个是较低温度的肩峰,被认为是从铁电到反铁电的相变,相变温度称为去极化温度(Td);另一个是对应于介电常数的最大值的温度(Tm)。 介电常数的峰宽和频率表明BNT:xPr样品表现出明显的弛豫特性。 相变峰(Tm)的扩散度可以通过如下的改进的Curies-Weiss定律得到很好地描述:
其中Tm是对应于介电常数最大值(εm)的温度,gamma;表征扩散程度。公式(1)修正的数据如表1所示,详细结果列于表1中。我们发现随着Pr3 含量的增加,扩散常数gamma;从1.453增加到1.921,进一步提高Pr3 含量(xgt;0.005),gamma;值开始略有下降(gamma;= 1.85),证实了随着Pr 3 含量的增加,介电峰的扩散性增加。图2的(c)和(d)表示Pr 3 浓度对BNT陶瓷的压电性能的影响。 显然,Pr 3 取代导致压电常数d 33的显着增强,浓度x = 0.003和0.004的BNT:xPr陶瓷的d33相对较大,分别为86和87pC / N。Pr3 离子含量的进一步增加导致d33略微降低。根据常规的Landau-Devonshire关系:d33 =2Q11Prε33,其中Q11是表示电致伸缩系数的常数,ε33是介电常数,剩余极化Pr通常与d33成比例。由P-E电滞回线得到的剩余极化强度Pr随Pr。 此外,矫顽场(Ec)随着Pr3 含量的增加而单调减少。因此,x=0.003和0.004的BNT:xPr陶瓷具有良好的压电性能,分别有d33 = 86pC / N(Ec=40kV/ cm),d33 = 87pC / N (Ec=44kV/ cm),而纯BNT为(d33 = 80pC / N,Ec / 40kV / cm)。除了压电性能得到增强,Pr 3 掺杂的BNT陶瓷还表现出强烈的红色发射光,这是由于Pr 3 离子作为重要的激活剂的内在性质,如图3所示。在图3中,它呈现出BNT:0.003Pr混合物样品的漫反射光谱,激发光谱和发射光谱。在610nm检测样品的激发光谱(左),其包括位于448nm,473nm和486nm的三个强吸收峰。根据激发带,三个吸收峰主要归因于Pr3 的典型的f-f跃迁,从3H4基态跃迁到3P0,1,2激发态,分别对应于3H4-3P2,3H4-3P1和3H4-3P0跃迁。由于Pr3 在4f内从激发态1D2基态3H4转移,通过用453nm激发检测,红色强发射峰集中在610nm处,类似于Diallo等人得到的结论。与紫外或红外光激发发光材料相比,发光BNT:xPr材料在蓝光激发(440-505 nm)下可以很好地实现与现有蓝光发光二极管芯片(450-470 nm)的兼容性。这意味着Pr掺杂的BNT系统可以用作蓝色LED中的红色发射磷光体。图3(b)中的能级图清楚地说明了BNT:xPr陶瓷的光致发光过程。为了较好地分析样品吸收性能,图3(c)给出了BNT:xPr(x = 0,0.003)样品的漫反射光谱。由于Pr 3 取代A位点的(Bi 0.5 Na 0.5) ,吸收边的红移很明显,并且反射光谱中A,B和C吸收带的位置与图3(a)中的那些激发和发射峰一致。根据漫反射光谱中的吸收边缘位置(353-420 nm),A带归因于导带跃迁[O(2p)-Ti(3d)]。对应于吸收边缘的带隙能量(Eg)可以通过将吸收边外推到能量轴上来确定,如图3(c)所示,其中通过Kubelka-Munk函数(K-M)获得反射率到吸光度数据的转换:
其中K和S分别是吸收系数和散射系数。Rinfin;是相对反射比。BNT:0.003Pr样品的带隙能量为3.05eV,与353nm处的吸收边大约一致。因此,353-420nm处的弱宽带主要归因于价带导电带跃迁[O(2p)-Ti(3d)](CT), Pr3 (4f)-Ti4 (3d) 间隔电荷转移状态(IVCT)和Bi3 离子的吸收。为了分析这些跃迁在弱宽带对发射强度的贡献,,比较了BNT:0.003Pr样品395nm,412nm和453nm激发的光致发光发射光谱(PLE),如图3(d)所示。显然,在397nm和412nm的激发下,样品显示以610nm为中心的相对弱的峰,这与在453nm的激发下观察到的相似。这意味着Pr3 的 1D2-3H<s
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